影响因子 > SCIE > 电气和电子工程
期刊简称:MICROELECTRON RELIAB
期刊全称:MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN0026-2714
影响因子2023:1.672 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
SCIE-(纳米科学与纳米技术)-NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
SCIE-(应用物理)-PHYSICS, APPLIED
出版商:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
发行地址:THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Electronics & Telecommunications Collection;
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Essential Science Indicators

影响因子SCIE期刊MICROELECTRON RELIAB历年影响因子 派博传思
影响因子
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论文收录SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年索引论文数量
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历年即时
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SCIE期刊 2015-2023年历年影响因子
2023年1.672
2022年1.663
2021年1.418
2020年1.589
2019年1.535
2018年1.483
2017年1.236
2016年1.371
2015年1.202
SCIE期刊历年影响因子排名
2023年199/271
2022年213/275
2021年223/276
2020年196/273
2019年182/266
2018年179/266
2017年183/260
2016年158/262
2015年134/257
SCIE期刊索引论文
2023年305
2022年325
2021年348
2020年340
2019年312
2018年516
2017年394
2016年408
2015年410
SCIE期刊索引论文数量专业排名
2023年91/271
2022年87/275
2021年42/276
2020年83/273
2019年173/266
2018年168/266
2017年133/260
2016年131/262
2015年147/257
SCIE期刊总引频次
2023年8290
2022年8,654
2021年8,303
2020年7,798
2019年7,093
2018年6,983
2017年6,254
2016年6,423
2015年4,680
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年97/271
2022年95/275
2021年92/276
2020年87/273
2019年85/266
2018年85/266
2017年80/260
2016年71/262
2015年69/257
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年97/271
2022年95/275
2021年92/276
2020年87/273
2019年85/266
2018年85/266
2017年80/260
2016年71/262
2015年69/257
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2023年97/271
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2019年85/266
2018年85/266
2017年80/260
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