影响因子 > SCIE > 光学
期刊简称:J X-RAY SCI TECHNOL
期刊全称:Journal of X-Ray Science and Technology
ISSN0895-3996
影响因子2023:1.741 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(仪器仪表)-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
SCIE-(光学)-OPTICS
SCIE-(应用物理)-PHYSICS, APPLIED
出版商:IOS PRESS
发行地址:NIEUWE HEMWEG 6B, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1013 BG
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Physical, Chemical & Earth Sciences;
Essential Science Indicators

影响因子SCIE期刊J X-RAY SCI TECHNOL历年影响因子 派博传思
影响因子
专业排名		Journal of X-Ray Science and Technology影响因子排名@SCIE光学


论文收录SCIE期刊Journal of X-Ray Science and Technology历年索引论文数量
论文收录
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历年论文
被引频次
专业排名
期刊J X-RAY SCI TECHNOL被引频次排名 @ SCIE光学 派博传思

历年即时
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历年即时
影响因子
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五年总效
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五年总效
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SCIE期刊 2015-2023年历年影响因子
2023年1.741
2022年3.066
2021年2.442
2020年1.535
2019年1.342
2018年1.662
2017年1.381
2016年0.699
2015年1.111
SCIE期刊历年影响因子排名
2023年69/98
2022年42/100
2021年55/101
2020年71/99
2019年74/97
2018年58/95
2017年59/94
2016年80/92
2015年61/90
SCIE期刊索引论文
2023年84
2022年90
2021年78
2020年80
2019年77
2018年71
2017年72
2016年69
2015年60
SCIE期刊索引论文数量专业排名
2023年58/98
2022年57/100
2021年55/101
2020年68/99
2019年62/97
2018年67/95
2017年59/94
2016年65/92
2015年58/90
SCIE期刊总引频次
2023年1043
2022年1,187
2021年1,078
2020年799
2019年693
2018年690
2017年646
2016年511
2015年474
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年73/98
2022年71/100
2021年70/101
2020年77/99
2019年73/97
2018年72/95
2017年69/94
2016年71/92
2015年69/90
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年73/98
2022年71/100
2021年70/101
2020年77/99
2019年73/97
2018年72/95
2017年69/94
2016年71/92
2015年69/90
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年73/98
2022年71/100
2021年70/101
2020年77/99
2019年73/97
2018年72/95
2017年69/94
2016年71/92
2015年69/90
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2023年73/98
2022年71/100
2021年70/101
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2019年73/97
2018年72/95
2017年69/94
2016年71/92
2015年69/90

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